摘要:強迫換流結(jié)束時刻真空開關(guān)兩端電壓會以階躍形式上升至較大幅值,過大的電壓峰值及變化率會直接增大弧后觸頭表面的電場強度及功率密度,從而影響其分斷可靠性。本文旨在通過真空開關(guān)串聯(lián)二極管及并聯(lián)RC吸收支路的試驗方案達到顯著減小真空開關(guān)電壓變化率的目的,依次開展了23kA電流等級分斷試驗,并探究二極管有無RC吸收支路對試驗結(jié)果的影響,最后基于MATLAB/simulink仿真軟件選取真空開關(guān)吸收支路的參數(shù),并將仿真與試驗結(jié)果對比,驗證了方案的合理性與有效性。
注:因版權(quán)方要求,不能公開全文,如需全文,請咨詢雜志社