光電產(chǎn)品γ輻照性能試驗(yàn)研究及應(yīng)用

作者:魏志強(qiáng); 溫明; 辛林杰; 張玉方; 阮建明 中國電子科技集團(tuán)公司第三研究所; 北京100015

摘要:為了解光電探測設(shè)備的耐輻照性能,對伺服轉(zhuǎn)臺(tái)控制系統(tǒng)、可見光成像傳感器、光學(xué)鏡頭等光電產(chǎn)品進(jìn)行了γ照射試驗(yàn),測試在約7~510 Gy/h之間不同劑量率下照射9小時(shí)產(chǎn)品的工作及失效情況,測試2 mm、5 mm鉛層對光電產(chǎn)品的防護(hù)作用。試驗(yàn)結(jié)果表明,大劑量率γ照射瞬間即對光電產(chǎn)品性能產(chǎn)生損傷,2 mm或5 mm鉛層防護(hù)對光電產(chǎn)品性能未能起到防護(hù)作用,但在累計(jì)劑量下有一定優(yōu)勢,同時(shí)測試了被測產(chǎn)品的耐輻照性能,為保證光電產(chǎn)品在有γ輻照環(huán)境下正常工作提供了可靠數(shù)據(jù)依據(jù)。

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