不同電解液體系中高純鎂表面微弧氧化膜的組織與性能
作者：賈秋榮; 崔紅衛(wèi); 張?zhí)鹛? 崔曉麗; 潘堯坤; 馮銳 山東理工大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院; 淄博255000
摘要：在硅酸鹽、鋁酸鹽、硅酸鹽與鋁酸鹽復(fù)合3種電解液體系中對純鎂表面進(jìn)行微弧氧化處理,通過掃描電鏡觀察、能譜分析、X射線衍射分析和電化學(xué)測試等方法研究了微弧氧化膜的組織及性能。結(jié)果表明:硅酸鹽體系中得到的微弧氧化膜最厚,其厚度為34.54μm,組織相對致密均勻,主要由MgO和Mg2SiO4構(gòu)成;復(fù)合體系中得到的微弧氧化膜的表面粗糙度最小,為0.19μm,組織致密均勻,主要由MgO、Mg2SiO4和MgAl2O4構(gòu)成;鋁酸鹽體系中得到的微弧氧化膜組織的致密性最差,主要由MgO和MgAl2O4構(gòu)成;硅酸鹽體系中得到的微弧氧化膜耐蝕性最好,其自腐蝕電流密度比基體的小一個(gè)數(shù)量級。
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