電子束輻照聚醚醚酮薄膜的氧化效應(yīng)

作者:譚海容; 邢哲; 劉偉華; 沈蓉芳; 吳國忠 中國科學(xué)院上海應(yīng)用物理研究所; 上海201800; 中國科學(xué)院大學(xué); 北京100049; 上??萍即髮W(xué); 上海200031; 湖北大學(xué)

摘要:為了研究輻照氣氛中氧氣含量對聚醚醚酮(PEEK)薄膜物理化學(xué)性能的影響,于室溫下分別在空氣和氧氣氣氛中研究了PEEK薄膜的電子束輻射效應(yīng)。采用傅里葉紅外光譜(FTIR)、接觸角儀、原子力顯微鏡、熱重分析和萬能拉力機(jī),測試了不同氧氣含量和不同吸收劑量對PEEK薄膜化學(xué)結(jié)構(gòu)、表面性質(zhì)、熱穩(wěn)定性和力學(xué)性能的影響。結(jié)果表明:在實(shí)驗(yàn)吸收劑量范圍內(nèi),FTIR譜圖中未出現(xiàn)新的紅外吸收峰;輻照后薄膜的表面粗糙度增加,靜態(tài)水接觸角隨吸收劑量的增加而減小;隨著輻照氣氛中氧氣含量的增加,薄膜熱穩(wěn)定性降低;空氣和氧氣氣氛中輻照樣品的斷裂應(yīng)力和斷裂伸長率隨吸收劑量的增加而先增加后減少。

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輻射研究與輻射工藝學(xué)報

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國內(nèi)刊號:31-1258/TL

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