摘要：針對(duì)溫控器校準(zhǔn)點(diǎn)深度測(cè)量難度大、精度低的問(wèn)題,文章提出一種基于單目結(jié)構(gòu)光的微小深度測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)首先對(duì)溫控器校準(zhǔn)點(diǎn)的邊沿進(jìn)行檢測(cè),然后采用改進(jìn)的Hessian矩陣法提取結(jié)構(gòu)光的中心線,通過(guò)校準(zhǔn)點(diǎn)邊沿獲得結(jié)構(gòu)光的上位點(diǎn),以結(jié)構(gòu)光最低點(diǎn)作為下位點(diǎn);完成對(duì)測(cè)量系統(tǒng)的標(biāo)定后,計(jì)算上位點(diǎn)和下位點(diǎn)的三維坐標(biāo),得到校準(zhǔn)點(diǎn)深度數(shù)據(jù)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,改進(jìn)的Hessian矩陣法能夠在復(fù)雜背景下提取出結(jié)構(gòu)光中心線,精度達(dá)到亞像素級(jí)。通過(guò)對(duì)溫控器校準(zhǔn)點(diǎn)的深度測(cè)量,平均誤差在0.02 mm以內(nèi),測(cè)量精度較高。