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Ieee Journal On Exploratory Solid-state Computational Devices And Circuits

  • ISSN:2329-9231
  • ESSN:
  • 國際標(biāo)準(zhǔn)簡稱:IEEE J EXPLOR SOLID
  • 出版地區(qū):United States
  • 出版周期:
  • 研究方向:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
  • 出版年份:
  • 語言:English
  • 是否OA:開放
  • 學(xué)科領(lǐng)域

  • 中科院分區(qū)

  • JCR分區(qū)

    Q3
  • IF影響因子

    2
  • 是否預(yù)警

期刊簡介

Journal Title:Ieee Journal On Exploratory Solid-state Computational Devices And Circuits

IEEE Journal on Exploratory Solid State Computational Devices and Circuits is an academic journal dedicated to exploratory research in the field of solid-state circuits. This journal is published by the IEEE Solid State Circuit Society and aims to promote interdisciplinary research, particularly in the use of exploratory materials and devices for novel, energy-efficient computing research that goes beyond traditional complementary metal oxide semiconductor (CMOS) technology.

The main focus of the magazine is to explore new materials, quantum electronic devices, spintronics and nanomagnetic devices, strain electronics (piezoelectric) devices, plasma optics, functional materials, high fan in/fan out logic circuits, reconfigurable and non-volatile computing circuits, as well as computing circuits for understanding on-chip communication methods. This journal is dedicated to providing researchers with a unique interdisciplinary forum to document the progress of promising alternative technologies as alternatives to CMOS technology in the fields of computing devices, circuits, and architecture.

中文簡介

《固態(tài)計(jì)算器件與電路探索期刊》是一本專注于固態(tài)電路領(lǐng)域的探索性研究的學(xué)術(shù)期刊。該期刊由IEEE固態(tài)電路學(xué)會(huì)出版,旨在推動(dòng)跨學(xué)科研究,特別是在使用探索性材料和設(shè)備進(jìn)行新型、能效高的計(jì)算研究,這些研究超越了傳統(tǒng)的互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)技術(shù)。

雜志的主要關(guān)注點(diǎn)是探索新材料、量子電子設(shè)備、自旋電子學(xué)和納米磁性設(shè)備、應(yīng)變電子學(xué)(壓電)設(shè)備、等離子體光學(xué)、功能性材料、高扇入扇出邏輯電路、可重構(gòu)和非易失性計(jì)算電路,以及理解片上通信手段的計(jì)算電路。該雜志致力于為研究人員提供一個(gè)獨(dú)特的跨學(xué)科論壇,記錄在計(jì)算設(shè)備、電路和架構(gòu)領(lǐng)域中,作為CMOS技術(shù)替代方案的有前景的替代技術(shù)的進(jìn)展。

期刊點(diǎn)評(píng)

Ieee Journal On Exploratory Solid-state Computational Devices And Circuits由IEEE出版商出版,收稿方向涵蓋COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE全領(lǐng)域,平均審稿速度 13 Weeks ,影響因子指數(shù)2,該期刊近期沒有被列入國際期刊預(yù)警名單,廣大學(xué)者值得一試。

WOS分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2023-2024年最新版)

按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE ESCI Q3 39 / 59

34.7%

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE ESCI Q3 33 / 59

44.92%

名詞解釋:
WOS即Web of Science,是全球獲取學(xué)術(shù)信息的重要數(shù)據(jù)庫,Web of Science包括自然科學(xué)、社會(huì)科學(xué)、藝術(shù)與人文領(lǐng)域的信息,來自全世界近9,000種最負(fù)盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學(xué)術(shù)會(huì)議多學(xué)科內(nèi)容。給期刊分區(qū)時(shí)會(huì)按照某一個(gè)學(xué)科領(lǐng)域劃分,根據(jù)這一學(xué)科所有按照影響因子數(shù)值降序排名,然后平均分成4等份,期刊影響因子值高的就會(huì)在高分區(qū)中,最后的劃分結(jié)果分別是Q1,Q2,Q3,Q4,Q1代表質(zhì)量最高。

CiteScore分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2024年最新版)

CiteScore SJR SNIP CiteScore排名
5 0.76 0.899
學(xué)科 分區(qū) 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q2 263 / 797

67%

大類:Engineering 小類:Electronic, Optical and Magnetic Materials Q2 97 / 284

66%

大類:Engineering 小類:Hardware and Architecture Q2 70 / 177

60%

名詞解釋:
CiteScore:衡量期刊所發(fā)表文獻(xiàn)的平均受引用次數(shù)。
SJR:SCImago 期刊等級(jí)衡量經(jīng)過加權(quán)后的期刊受引用次數(shù)。引用次數(shù)的加權(quán)值由施引期刊的學(xué)科領(lǐng)域和聲望 (SJR) 決定。
SNIP:每篇文章中來源出版物的標(biāo)準(zhǔn)化影響將實(shí)際受引用情況對(duì)照期刊所屬學(xué)科領(lǐng)域中預(yù)期的受引用情況進(jìn)行衡量。

其他數(shù)據(jù)

是否OA開放訪問: h-index: 年文章數(shù):
開放 -- 22
Gold OA文章占比: 2021-2022最新影響因子(數(shù)據(jù)來源于搜索引擎): 開源占比(OA被引用占比):
97.30% 2
研究類文章占比:文章 ÷(文章 + 綜述) 期刊收錄: 中科院《國際期刊預(yù)警名單(試行)》名單:
100.00% SCIE

歷年IF值(影響因子):

歷年引文指標(biāo)和發(fā)文量:

歷年自引數(shù)據(jù):

發(fā)文統(tǒng)計(jì)

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